變電站二次設(shè)備所使用芯片早期隱患發(fā)現(xiàn)的難題有了新解。8月8日，國(guó)內(nèi)首套變電站二次設(shè)備芯片級(jí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在無錫500千伏斗山變電站投入試點(diǎn)應(yīng)用。這個(gè)系統(tǒng)能夠?qū)φ緝?nèi)二次設(shè)備近千塊芯片進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)，以實(shí)現(xiàn)芯片早期隱患的主動(dòng)預(yù)警。
長(zhǎng)期以來，變電站二次設(shè)備所使用芯片的早期隱患或性能劣化問題，難以通過常規(guī)的設(shè)備巡視發(fā)現(xiàn)。加上近年來國(guó)產(chǎn)芯片在二次設(shè)備中加速替代應(yīng)用，但因歷史數(shù)據(jù)積累不足，制約著狀態(tài)感知和故障研判。為破解這一難題，2023年1月起，國(guó)網(wǎng)無錫供電公司深度參與國(guó)家電網(wǎng)公司重大科技項(xiàng)目《變電站二次設(shè)備芯片級(jí)主動(dòng)監(jiān)測(cè)與可靠性評(píng)估研究與應(yīng)用》，并推動(dòng)該項(xiàng)目在斗山變電站試點(diǎn)應(yīng)用。
該項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)聚焦“芯片級(jí)狀態(tài)感知與可靠性評(píng)估”這一核心目標(biāo)，成功研制了國(guó)內(nèi)首套變電站二次設(shè)備芯片級(jí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)建立了國(guó)產(chǎn)芯片核心參數(shù)庫，明確了CPU、FPGA等關(guān)鍵芯片正常運(yùn)行時(shí)的溫度、電壓等核心指標(biāo)。同時(shí)，該系統(tǒng)通過在核心設(shè)備內(nèi)部加裝高精度“監(jiān)視器”，可實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片運(yùn)行數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)采集，并對(duì)跨型號(hào)、跨廠家、跨批次設(shè)備的健康狀況進(jìn)行智能比對(duì)，從而實(shí)現(xiàn)芯片早期故障預(yù)警和設(shè)備可用率的科學(xué)評(píng)估。
評(píng)論